为持续推进我国半导体与集成电路产业的前沿探索和核心技术攻关，探讨行业最新创新进展和发展趋势，2023中国电子学会【全国电子信息青年科学家论坛之第四届半导体青年学术会议】于2023年5月4日至7日在上海市召开。会议以“半导体前沿技术与集成电路设计”为主题，会议内容包括主论坛、青年学者沙龙和专题论坛三大板块，其中专题论坛将围绕半导体领域十四个关键研究方向分专题进行学术交流。

作为一家全球领先的测试、测量和监测解决方案知名品牌，泰克近年来与客户、合作伙伴联手一道解决前沿探索过程中的种种难题，助力半导体与集成电路行业的技术发展和革新。在【第四届半导体青年学术会议】期间，泰克将集中展示最新测试方案，为神经形态器件与脑类计算、低维半导体材料测试、半导体量子器件测试等前沿研究提供全面领先解决方案。

为神经元网络测试提供定制化开发和集成

(资料图片仅供参考)

类脑计算是借鉴神经科学处理信息的基本原理，面向人工智能，发展新的非冯诺依曼计算的新技术，类脑计算的基础是人工神经元网络。 人工神经元网络是由大量处理单元互联组成的非线性、自适应信息处理系统，它通常是由新型高速非易失存储 器组成的阵列构成，新一代高速存储 器包括阻变存储器、相变存储器、铁电存储器等两端器件和半浮栅晶体管，电解质栅晶体管等三端器件。

神经元网络阵列维数越高，拓扑越复杂，所需的测试通道就越多，测试成本也越高，测试流程也会变得更复杂。最新的研究成果显示，神经元网络阵列研究已经达到 32x32 三端器件节点组成的阵列，并在短期内有向更高的维度发展的趋势。 由于神经元网络阵列测试系统价格昂贵，连接及流程控制复杂，通常的解决方法是用 FPGA 搭建测试装置，但测试精度以及权威性都无法与由专业的高精度测试仪器组成的测试系统相提并论。

对适当维数的神经元网络阵列，如 32x32 两端节点或 16x16 三端节点阵列，用高精度测试仪器搭建测试系统的价格还是可以接受的。测试系统的优点在于它不仅能够进行功能性测试，还能以极高的测试精度完成神经元网络阵列的训练，深度学习等方面的研究探索。

神经元网络阵列测试，首先需要根据被测节点的表征参数选择合适的测试仪器，其次还要根据被测阵列的芯片管教布局定制探卡，最后要根据测试项目定制软件，实现自动化测试。泰克忆阻器/神经元网络测试系统包含单元测试及阵列测试两大类，每一大类又包含不同的配置以满足不同研究阶段的测试需求。泰克公司中国研发中心可以为这一领域的客户提供定制开发及系统集成。

泰克神经元网络阵列测试系统 S500，可以被定制为以下三种配置：

1.两端器件阵列通用测试方案：a. 全定制化；b. 基于 26 系列源表；c. 最高 32x32。

2. 三端器件阵列通用测试方案：a. 全定制化；b. 基于 26 系列源表；c. 最高 16x16。

3. 极端化表征阵列测试方案：a. 全定制化；b. 适用于两端及三端器件阵列；c. 最高 8x8；d. 基于 26 系列源表、AWG5208 和 MSO68B。

应对二维/石墨烯材料及电子器件测试挑战

电阻率及霍尔效应测试均是加流测压的过程，需要设备能输出电流并且测试电压，这意味着同时需要电流源和电压表，并且电流源和电压表精度要高，保证测试的准确性。

电阻率及电子迁移率通常范围较大，需要电流电压范围都很大的设备。 同时，还需与探针台配合，测试设备需方便连接，需易用的软件。另外，霍尔效应测试时，通常要准备霍尔条 (Hall Bar)。

电输运测试方案助力半导体量子器件测试

除了低电平测试仪器，通常电输运测试还要配置 SMU 作为直流激励源。特殊情况下还需要 AFG 作为交流激励源，采集卡或示波器用于采集锁放输出信号。如果测试介电常数，还需配置静电计。 高频输运特性的研究是电输运特性测试的发展方向，研究高频输运特性时，需配置带宽达 GHz 的任意波形发生器。

单一被测样品测试方案—— 6221/2182A 一套 ，24XX 或 26XX 一台 ，选配 ( 各一台 ) ：AFG31252、2002 八位半数字万用表、6514 或 6517 或 6430( 测试介电常数)。

高频输运特性测试方案——高频输运特性测试， 在一般输运特性配置基础上，需增配 AWG 系列任意波形发生器。泰克提供 AWG5200 及 AWG70000 系列任意波形发生器。

除此之外，泰克还为半导体自旋电子器件与物理测试、半导体光电子材料与器件测试、化合物半导体器件与集成测试、柔性电子器件与应用测试、半导体传感器与微纳机电系统测试、集成电路设计与EDA测试、集成芯片与先进封装、半导体逻辑/存储器件与集成测试等提供更多半导体测试解决方案。